NX10 중급형 AFM

Park NX10 중급형 AFM 원자현미경

주사탐침현미경

제조사 : 파크시스템스(주)

공급사: 랩시스템

Park Systems의 NX10은 최상의 나노 단위의 해상도로, 믿을 수 있는 동일한 데이터를 제공합니다. 

샘플 세팅부터 이미지 스캔, 측정, 분석에 이르기까지 모든 단계에서 시간을 줄일 수 있습니다. 

사용자는 더 많은 시간과 더 나은 데이터를 기반으로, 혁신적인 연구에 집중할 수 있을 것입니다.

SEM과 AFM의 차이점

1. Park의 AFM은 진공을 잡을 필요가 없습니다.
2. Park의 AFM은 샘플을 용액에 담긴 상태에서

   측정이 가능합니다.
3. Park의 AFM은 수 나노대의샘플의 3D 이미징

   뷰어가 가능합니다.
4. Park의 AFM은 비접촉 방식의 정교한 팁의 표면의

   높낮이, 거칠기 등의 다양한 물성 측정을 통해 

   수 나노대의정교한 길이 측정이 가능합니다.

특장점 소개

완전 비접촉 모드를 통해

팁의 적은 마모, 장기적인 고 해상도 스캔 가능

비접촉식 모드 장점
작은 팁 마모 = 장기적인 고해상도 스캔
비파괴적인 팁-샘플 상호 작용 = 견본 수정의 최소화
파라미터에 의존하는 결과의 면제

접촉식 모드 단점
빠른 팁의 마모 = 흐릿한 저해상도 스캔
파괴적 팁-샘플 상호작용 = 샘플 손상 및 변경
파라미터에 의존적

Easy Tip and Sample Exchange

사이드 접근을 용이하게 하는 독특한 헤드 디자인은 사용자가 손으로 새로운 팁과 샘플교체를 쉽게 합니다. 

또한, 캔틸레버 팁 홀더에 부착된 미리 조정된 캔틸레버를 이용하여 스캔을 할 수 있기 때문에 

까다로운 레이저 빔 정렬이 필요 없습니다.

분리된 X,Y축과Z축 스캐너

타사 대비 가장 근본적인 차이점은 분리된 X,Y축과Z축 스캐너에 있습니다. 

Park의 독창적인 independent 기반의 XY축 및 Z 축 스캐너 설계를 통해 산업계에서 

나노 해상도에 탁월한 데이터 정확도를 제공합니다.